上一篇文章為大家講了是德示波器探測需要避免3大陷阱，當(dāng)然還有一些其他的陷阱，下面就跟著西安安泰測試小編一起看看是德示波器探測需要避免的其他陷阱有哪些？

　　陷阱4-選擇錯誤的電流探頭

　　大電流和小電流測量需要捕獲的細(xì)節(jié)是不同的。你需要知道哪種電流探頭更適合應(yīng)用程序，以及使用錯誤的探頭可能會遇到什么麻煩。

　　大電流測量：

　　如果用鉗形探頭測量大電流(10A-3000A)，那么你的設(shè)備必須足夠小，這樣鉗形探頭就可以夾住它。如果設(shè)備太大，鉗形探頭無法夾住，工程師可能會想辦法在探頭夾上添加額外的導(dǎo)線，但這會改變被測設(shè)備的特性。更好的方法是使用合適的工具。

　　最好的解決方案是使用帶有柔性電路探頭前端的大電流探頭。您可以將柔性電路纏繞在任何設(shè)備上。這種探頭被稱為Rogowski線圈。它允許您在不添加未知特性元件的情況下檢測設(shè)備，以保持測量結(jié)果的高信號完整性。它們還允許您測量從ma級到數(shù)百公斤的大電流。請注意，它們只測量交流電流，因此將隔離DC重量。它們的靈敏度也低于某些電流探頭。這通常不是大電流測量的問題。但在測量小電流時(shí)，靈敏度和檢查DC重量的能力變得非常重要。請記住，一種有效的測量方法并不一定適用于另一種測量方法。

　　圖1：Rogowski探針纏繞在元件上。

　　使用適用于被測設(shè)備的大電流探頭。

　　小電流測量

　　如果測量電池供電設(shè)備的電流，動態(tài)范圍會有很大的不同。如果電池供電設(shè)備處于空閑狀態(tài)或只處理少量的后臺任務(wù)，其電流峰值將非常小。當(dāng)設(shè)備切換到更活躍的狀態(tài)時(shí)，電流峰值將大大提高。使用大垂直標(biāo)度的示波器，您可以測量大信號，但小電流信號將被測量噪聲覆蓋。另一方面，如果使用較小的垂直標(biāo)度設(shè)置，則大信號會減少波，測量結(jié)果也會失真和失效。

　　所選的電流探頭不僅應(yīng)該能夠測量μ在A到A的寬度范圍內(nèi)，您也可以使用多個放大器來檢查大小電流偏差。探頭中的兩個可變增益放大器允許您設(shè)置放大視圖，以查看小電流波動，并縮小視圖以查看大電流峰值（見圖2）。

　　圖2：配備兩個可變增益放大器的電流探頭允許您同時(shí)檢查大小電流偏差。這個例子顯示了Keysight N2820A/21A高靈敏度電流探頭。

　　使用具有足夠靈敏度和動態(tài)范圍的小電流探頭來捕捉信號的各個方面和細(xì)節(jié)。

　　陷阱5-在紋波和噪聲測量過程中，會錯誤地處理直流偏置

　　直流電源上的紋波和噪聲是由較大直流信號上的小交流信號形成的。當(dāng)直流偏置較大時(shí)，您可能需要在示波器上使用較大的每個電壓設(shè)置來顯示屏幕上的信號。與小交流信號相比，它降低了測量的靈敏度，增加了噪聲。這意味著您無法獲得信號交流部分的準(zhǔn)確表示。

　　如果使用隔離DC電容器來解決這個問題，它將不可避免地阻擋一些低頻通信內(nèi)容，使您無法觀察信號通過設(shè)備上的組件時(shí)的變化。

　　使用具有較大偏置功能的電源探頭，波形可以放置在屏幕中間，而無需去除DC偏置。這樣，整個波形就可以顯示在屏幕上，垂直度小，放大。通過這些設(shè)置，您可以查看瞬態(tài)、紋波和噪聲的細(xì)節(jié)。

　　使用具有較大偏置功能的電源探頭，可以查看瞬態(tài)、紋波和噪聲的細(xì)節(jié)，而無需消除信號的直流部分。

　　陷阱6-未知帶寬限制

　　重要測量時(shí)，一定要選擇帶寬足夠的探頭。缺乏帶寬會扭曲信號，使您很難做出明智的工程測試或設(shè)計(jì)決策。

　　一般接受的帶寬計(jì)算公式為：評價(jià)從10開始％到90％上升時(shí)，帶寬乘以上升時(shí)間等于0.35。

　　值得注意的是，您的整個系統(tǒng)帶寬也是需要考慮的一個重要因素。應(yīng)考慮探頭和示波器的帶寬，以確定系統(tǒng)的帶寬。計(jì)算系統(tǒng)帶寬的公式如下。

　　例如，假設(shè)您的示波器和探頭帶寬為500mHz。根據(jù)上述公式，系統(tǒng)帶寬為353mHz。您可以看到，與探頭和示波器的兩個單獨(dú)帶寬相比，系統(tǒng)帶寬大大降低。

　　目前，如果探頭帶寬僅為300mHz，示波器帶寬仍為500mHz，則應(yīng)用上述公式，系統(tǒng)帶寬進(jìn)一步降至257mHz。

　　探頭和示波器形成一個“系統(tǒng)”，對帶寬的整體影響大于其單獨(dú)影響。

　　陷阱7-被掩蓋的噪聲影響

　　探頭和示波器的噪聲可能會導(dǎo)致被測設(shè)備的噪聲更大。為您的應(yīng)用程序選擇具有適當(dāng)衰減比的探頭將降低探頭和示波器的噪聲。因此，您可以獲得更準(zhǔn)確的信號，并更清楚地檢查被測設(shè)備的情況。

　　許多探頭制造商將探頭噪聲描述為等效輸入噪聲（EIN），并以Vrms為單位表示。較高的衰減比允許您測量更大的信號，但缺點(diǎn)是示波器檢測到這些比并放大信號及其噪聲。為了解該效應(yīng)的實(shí)際結(jié)果，圖3中的綠色痕跡顯示了使用10:探頭放大后的噪聲。

　　圖3：使用1:1和10:探頭測得的50mvp-p正弦波。

　　有一種方法可以簡單地估計(jì)探頭的噪聲，即從探頭的技術(shù)數(shù)據(jù)或手冊中檢測探頭的衰減比和探頭的噪聲電平。

　　每個電路和測試環(huán)境都不同。在一個環(huán)境中有效的探頭在另一個環(huán)境中不一定仍然有效。在某些使用場景中，使用附件是可以接受的。但在其他場景中，只有與被測設(shè)備連接最簡單、最短，才能成功測量。一些靈活的測量方法對測試結(jié)果的影響相對較小。因此，您必須了解在每個測試場景中使用哪些工具和技術(shù)來獲得準(zhǔn)確的測試結(jié)果。