吉時(shí)利2450源表在薄膜材料電阻率測(cè)試中的應(yīng)用
最近，我遇到了一個(gè)關(guān)于測(cè)試薄膜材料電阻率的項(xiàng)目?？蛻?hù)需要一個(gè)探針臺(tái)，并且需要配備一臺(tái)儀器來(lái)進(jìn)行電阻率測(cè)試。為了滿(mǎn)足客戶(hù)的要求，我決定采用四探針?lè)由显幢淼姆椒▉?lái)進(jìn)行薄膜材料的電阻率測(cè)試。
四探針?lè)ㄊ且环N常用的測(cè)試電阻率的方法，它通過(guò)使用四個(gè)探針來(lái)測(cè)量薄膜材料的電阻。這種方法可以減少接觸電阻的影響，提高測(cè)試的準(zhǔn)確性。而源表則是一種用于電阻測(cè)試的儀器，它可以提供穩(wěn)定的電流源和精確的電壓測(cè)量，從而實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)的電阻率測(cè)試。
測(cè)試方案搭配：
方案一：
探針臺(tái)+源表
探針臺(tái)示意圖
源表示意圖
搭配示例：
廣州四探針RTS-2型臺(tái)子：
基本指標(biāo)：
間距：1±0.01mm；
針間絕緣電阻:≥1000MΩ；
機(jī)械游移率:≤0.3％；
探針：碳化鎢或高速鋼材質(zhì)，探針直徑Ф0.5mm；
探針壓力：5～16牛頓(總力)；
原理簡(jiǎn)述：
什么是電阻率？
一種材料的電阻率表征的是阻礙電流流過(guò)的能力的大小。其單位為Ω·m/Ω·cm。如果電流很容易在某種材料中流過(guò)，那么該材料有較低的電阻率；如果電流很難流過(guò)某種材料，那么該材料有較高的電阻率，電阻率為材料的本質(zhì)物理屬性，與大小和形狀無(wú)關(guān)。
常見(jiàn)材料電阻率：
薄膜材料電阻率測(cè)試----方塊電阻：
ρ：?jiǎn)挝沪浮
V:測(cè)得的電壓
I：測(cè)得的電流
W:寬
H:高
L:長(zhǎng)
補(bǔ)充：
?通常需要測(cè)各種材料的薄膜或薄片電阻，如果材料可以做成長(zhǎng)方形，那么就可以像測(cè)量條狀樣品一樣測(cè)量電阻率；
?有一種特殊情況，當(dāng)W寬度和L長(zhǎng)度相等時(shí)，此時(shí)材料為正方形，電阻值被稱(chēng)為方塊電阻Rs，即表面電阻率。
薄膜材料電阻率測(cè)試----四探針?lè)ǎ?/span>
?對(duì)于任意形狀和任意大小的薄膜材料，比較方便的方法是四探針?lè)?/span>
?要求：
?、偎狞c(diǎn)共線(xiàn)②四根針等間距③材料長(zhǎng)度和寬度遠(yuǎn)大于探針間距。
測(cè)試提示：
探針接觸方式
探針接觸應(yīng)保持一定的壓力，但不同材料的性質(zhì)不同，有些材料的電阻率會(huì)隨外加壓力變化而改變，因而測(cè)試前要依據(jù)具體的測(cè)試材料而適當(dāng)?shù)母淖兲结槈毫?。首先用粗調(diào)鍵旋轉(zhuǎn)探針至樣品表面，略有壓力后停止。再細(xì)調(diào)一定距離，保證測(cè)量時(shí)表面讀數(shù)穩(wěn)定后即可。
總而言之，為了滿(mǎn)足客戶(hù)的需求，我決定采用四探針?lè)?源表的方法來(lái)進(jìn)行薄膜材料的電阻率測(cè)試。這種方法可以提供準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果，并且避免了接觸電阻的影響。通過(guò)這種方法，我們可以為客戶(hù)提供高質(zhì)量的測(cè)試服務(wù)。
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